QFN20-0.4翻蓋彈片測試座
產(chǎn)品簡介
產(chǎn)品用途:編程座、測試座,對QFN20的IC芯片進(jìn)行燒寫、測試
適用封裝:QFN20 引腳間距0.4mm
測試座:QFN20-0.4
特點(diǎn):采用U型頂針,接觸更穩(wěn)定
規(guī)格尺寸
型號:QFN-20-0.4
引腳間距(mm):0.4
腳位:20
適配芯片尺寸: 3*3mm
QFN20,老化座,0.4間距3
2020-01-15 16:59 1739次瀏覽QFN20-0.4翻蓋彈片測試座
產(chǎn)品簡介
產(chǎn)品用途:編程座、測試座,對QFN20的IC芯片進(jìn)行燒寫、測試
適用封裝:QFN20 引腳間距0.4mm
測試座:QFN20-0.4
特點(diǎn):采用U型頂針,接觸更穩(wěn)定
規(guī)格尺寸
型號:QFN-20-0.4
引腳間距(mm):0.4
腳位:20
適配芯片尺寸: 3*3mm
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