大多數(shù)普通天線的測(cè)量是測(cè)定其遠(yuǎn)場(chǎng)的輻射特性，如方向圖（幅度、相位、極化）、旁瓣電平、增益、頻帶寬度等。本節(jié)將定義這些測(cè)量的基本概念。

基本步驟是將一副發(fā)射或接收的源天線放在相對(duì)于待測(cè)天線（AUT）的遠(yuǎn)場(chǎng)位置上，待測(cè)天線架設(shè)在可旋轉(zhuǎn)平臺(tái)上，旋轉(zhuǎn)待測(cè)天線，借以采集大量方向圖取樣值，實(shí)現(xiàn)天線輻射特性的測(cè)量。由于天線是電磁開放系統(tǒng)，測(cè)試環(huán)境對(duì)測(cè)量結(jié)果將產(chǎn)生影響，因此必須合理選擇測(cè)試場(chǎng)地，盡量實(shí)現(xiàn)無反射的環(huán)境，如建造微波暗室等。