測(cè)試避免造成引腳間短路
電壓測(cè)量或用示波器探頭測(cè)試波形時(shí)，避免造成引腳間短路，在與引腳直接連通的外圍印刷電路上進(jìn)行測(cè)量。任何瞬間的短路都容易損壞集成電路，尤其在測(cè)試扁平型封裝的CMOS集成電路時(shí)更要加倍小心。
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2020-12-07 18:18 2182次瀏覽
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